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對于考古紡織品結(jié)構(gòu)和材料的研究通常很復雜，并且由于樣品容易受到沉積后的影響，如污垢和腐爛，這可能使研究人員的工作變得更加費力和麻煩。在考古學的相關研究中，侵入式的研究方法是不可取的，因為發(fā)掘出來的大多數(shù)物品都是稀缺的，保存這些物品至關重要，尤其是考古紡織品，很容易破損，而且其外部通常覆蓋著硬化的泥土或粘土，無法去除。這時，使用μCT或3DXRM這種能夠提供微米尺度的無損成像技術將很好地幫助我們通過橫截面或3D可視化來研究這些易碎物品并且不會損壞它們，以達到樣品重復利用研究的目...

隨著全球?qū)δ茉葱枨蟮牟粩嘣黾?，特別是在電動或混合動力汽車和可再生能源管理這些領域，人們越來越注重以較低的電力消耗為目標，因此能在高頻、高溫、高壓環(huán)境下工作的第三代半導體材料碳化硅（SiC）逐漸受到了廣泛的關注。目前碳化硅產(chǎn)業(yè)已成為全球范圍內(nèi)一個新興的高技術行業(yè)，涵蓋了材料、器件、模塊以及應用等多個方面的產(chǎn)業(yè)鏈。然而，在生產(chǎn)和制備過程中應怎樣確保SiC的穩(wěn)定性和工作效率呢？較基礎、高效的方式就是準確測量它們的電阻率或電導率。按照摻雜后SiC的電阻率來分類，碳化硅襯底主要有導通型...

X射線衍射技術在藥物分析中有著廣泛的應用。X射線衍射技術是一種用于研究物質(zhì)結(jié)構(gòu)的分析方法，它通過測量X射線在晶體中的衍射角度，來確定晶體的結(jié)構(gòu)。這種技術在藥物分析中具有很多應用。自藥典和法規(guī)對涉及藥物晶型研究相關的問題時，X射線衍射技術在藥物分析中的應用開始增加，為藥物研發(fā)、生產(chǎn)和質(zhì)量控制提供重要的技術支持。常見的有下面幾種。藥物API晶型分析藥物雜質(zhì)分析（堿式碳酸鑭雜質(zhì)定量）結(jié)晶度分析原位分析在藥物成分鑒定、藥物合成監(jiān)測、藥物制劑分析、藥物與生物分子相互作用研究、藥物溶解度...

許多壽命測量方法，如QSSPC、μPCD或CDI，以及MDP在極低的注入濃度下都存在異常高的測量壽命。這種效應是由于樣品中的捕獲中心造成的。這些捕獲中心對于了解材料中載流子的行為非常重要，并且也會對太陽能電池產(chǎn)生影響。因此，需要以高分辨率來測量缺陷密度和這些缺陷中心的活化能。借助MDPmap和MDPingot，可以通過一次測量來測量光電導率以及少數(shù)載流子壽命，并在寬注入范圍內(nèi)實現(xiàn)全自動測量。巧妙的算法可以確定樣品中的缺陷濃度。根據(jù)注入相關壽命曲線，可以確定低注入下的壽命τLL...

鋰離子電池，由于其具有高能量密度和體積能量密度，循環(huán)壽命長，無記憶效應等優(yōu)點，越來越受到市場和消費者的青睞，這也推動了鋰離子電池的快速發(fā)展和針對其研究的不斷深入。XRM憑借著其能在無損情況下表征樣品真實三維結(jié)構(gòu)的特點，在近些年逐漸成為鋰電池研究中的重要表征手段之一，且應用范圍也在不斷擴展。實例一軟包電池多尺度表征BrukerSkyscan2214樣品整體掃描，11um局部高分辨掃描，正極，1um局部高分辨掃描，隔膜，0.15um電池正極顆粒粒徑分布（左圖）及孔徑分布（右圖）實...

藥物大部分以晶體的形式存在，利用X射線衍射，我們可以獲得每種不同的晶型的藥物特征的衍射信息。如同指紋一樣，在數(shù)據(jù)庫中每種晶型都有特征的衍射圖譜。即使對于含有多成分的固體制劑而言，其中原料藥與輔料各自對應的粉末X射線衍射圖譜不會發(fā)生變化，可作為藥物晶型定性判斷的依據(jù)。因而對于未知的藥物樣品，通過PXRD，我們可以很快通過比對實測圖中的衍射峰的位置，強度，從已有數(shù)據(jù)庫中查到原料藥的晶體結(jié)構(gòu)相匹配的衍射圖譜，從而準確鑒定該藥物的晶型。PXRD對于藥物晶型的定性研究主要分為兩個方面：...

局域結(jié)構(gòu)是指構(gòu)成材料的原子或離子在幾個晶胞尺度范圍內(nèi)（具體來說，使用X射線等探針對目標樣品進行散射實驗后，獲得的信號強度I隨Q的分布函數(shù)I（Q）（Q=4πsinθ/λ）中同時包含了相干散射、非相干散射以及背景信號，扣除背景后按照下式進行處理從而獲得全散射函數(shù)S(Q)：而后，對S(Q)-1以Q為權重處理后（即Q[S(Q)-1]，也被稱作F(Q)），再進行傅里葉變換，即可得到對分布函數(shù)G(r)：對于不同結(jié)構(gòu)的材料，其原子對的分布規(guī)律也各不相同，圖1展示了立方堆積和六方堆積的G(r...

1925年PierreAuger在威爾遜云室中發(fā)現(xiàn)了俄歇電子，并進行了理論解釋，俄歇電子以他的名字命名。1953年，JamesJosephLander使用了電子束激發(fā)俄歇電子能譜，并探討了俄歇效應應用于表面分析的可能性。1967年LarryHarris提出了微分處理來增強AES譜圖信號。美國明尼蘇達大學的RolandWeber,PaulPalmberg和他們的導師BillPeria進行的研究揭示了俄歇電子能譜的表面靈敏特性，研制了早期商用俄歇表面分析儀器（如圖1所示），并基于...